Agilent ParBERT 81250 40 Gb/ s解决方案是测试16:1和4:1 OC-768 MUX(复用),DeMUX(解复用)及串行器件的理想集成误码率(BER)测量系统。根据配置情况,系统可产生和分析相关子量程1/2、1/4、1/8和1/16的高达38至45 Gb/s串行数据流,以及高达10.8 Gb/s的并行数据流。并能在并行线伪随机字序列(PRWS)上产生高达2^31-1的标准PRBS数据。用用户定义的或PRBS数据分析BER。系统使用VXI硬件和基于Windows 2000/NT?的用户软件。
Agilent ParBERT 81250 40G 电/光并行误码率测试仪系统是测试OC-768光或电并行边或串行边的理想设备,能使半导体、元件和设备制造商的产品更快进入市场。
现可提供就绪和易于订货的40 Gb/s码型发生器和差错探测器。要了解详细情况,请参看下面的ParBERT 40G产品综述。
- 在一个系统内产生和分析 38 - 45 Gb/s, 10.8Gb/s, 3.35GB/s 和 2.7GB/s 信号
- 产生伪随机字序列 (PRWS) (达 2.7 Gb/s) 和达231-1的标准 PRBS (达 45 Gb/s)
- 用用户定义的 PRBS 或数据分析误码率 (BER)
- 通过 Agilent VEE, National Instruments LabVIEW, Excel, Agilent TestExec, C/C++ 和 Microsoft?VisualBasic远地编程
- 高达10.8/21.6 GHz的外时钟输入
- 在 21.6 GHz, 10.8 GHz, 2.7 GHz/675 MHz ( MUX 模块仅 45 Gb/s)的子速率时钟输出
- 45Gb/s DeMUX 模块的时钟数据恢复(CDR)模式
- 直观的 Windows 2000/ NT? 用户界面
Agilent ParBERT 81250 40 Gb/ s解决方案是测试16:1和4:1 OC-768 MUX(复用),DeMUX(解复用)及串行器件的理想集成误码率(BER)测量系统。
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